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TOMOGRAFIA DE IMPEDÂNCIA ELÉTRICA: MÉTODOS COMPUTACIONAIS

SKU 264807
TOMOGRAFIA DE IMPEDÂNCIA ELÉTRICA: MÉTODOS COMPUTACIONAIS

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9788578614294
R$ 55,00
R$ 46,75
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    • 1
      Autor
      ‹ ›
      ALEXANDRE SOUTO: ROLNIK, VANESSA Indisponível
    • 2
      Editora
      ‹ ›
      EDITORA LIVRARIA DA FISICA Indisponível
    • 3
      Páginas
      ‹ ›
      180 Indisponível
    • 4
      Edição
      ‹ ›
      1 - 0 Indisponível
    • 5
      Origem
      ‹ ›
      NACIONAL Indisponível
    • 6
      Encadernação
      ‹ ›
      BROCHURA Indisponível
    • 7
      Dimensões
      ‹ ›
      16 x 23 x 1 Indisponível
    • 8
      ISBN
      ‹ ›
      9788578614294 Indisponível
    • 9
      Situação
      ‹ ›
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Grande parte do sucesso da medicina moderna se deve ao desenvolvimento das técnicas de diagnóstico por imagem, tais como a tomografia computadorizada, a ultrassonografia e a ressonância magnética nuclear. Dentre essas técnicas, a tomografia de impedância elétrica (TIE) tem chamando a atenção de pesquisadores das mais diferentes áreas. Considerada uma técnica não invasiva e de baixo custo, a TIE vem ganhando maturidade nas últimas décadas e muito esforço tem sido despendido, tanto no aperfeiçoamento da parte instrumental como no desenvolvimento de algoritmos numéricos. Este livro é uma introdução a alguns métodos computacionais aplicados à TIE. Com uma linguagem didática e simples, o texto discorre sobre a formulação matemática do problema da reconstrução da imagem na TIE e faz uma revisão sobre problemas inversos, técnicas de regularização e métodos de otimização. Mais es pecifi cadamente, o texto apresenta o Método dos Elementos de Contorno como técnica para resolver numericamente o problema direto (composto pela equação de Laplace e condições de contorno) e o algoritmo de otimização estocástico Simulated Annealing para tratar do problema inverso.

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